Corsi di Laurea Corsi di Laurea Magistrale Corsi di Laurea Magistrale
a Ciclo Unico
Scuola di Scienze
SCIENZA DEI MATERIALI
Insegnamento
METODI FISICI DI CARATTERIZZAZIONE DEI MATERIALI E LABORATORIO
SCN1037879, A.A. 2014/15

Informazioni valide per gli studenti immatricolati nell'A.A. 2014/15

Principali informazioni sull'insegnamento
Corso di studio Corso di laurea magistrale in
SCIENZA DEI MATERIALI
SC1174, ordinamento 2013/14, A.A. 2014/15
N0
porta questa
pagina con te
Crediti formativi 10.0
Tipo di valutazione Voto
Denominazione inglese PHYSICAL METHODS AND EXPERIMENTS FOR MATERIAL CHARACTERIZATIONS
Sito della struttura didattica http://scienzadeimateriali.scienze.unipd.it/2013/laurea_magistrale
Dipartimento di riferimento Dipartimento di Scienze Chimiche
Obbligo di frequenza
Lingua di erogazione ITALIANO
Sede PADOVA
Corso singolo È possibile iscriversi all'insegnamento come corso singolo
Corso a libera scelta È possibile utilizzare l'insegnamento come corso a libera scelta

Docenti
Responsabile ALBERTO CARNERA FIS/03
Altri docenti DAVIDE DE SALVADOR FIS/03
CHIARA MAURIZIO FIS/03

Dettaglio crediti formativi
Tipologia Ambito Disciplinare Settore Scientifico-Disciplinare Crediti
CARATTERIZZANTE Discipline fisiche e chimiche FIS/03 10.0

Organizzazione dell'insegnamento
Periodo di erogazione Primo semestre
Anno di corso I Anno
Modalità di erogazione frontale

Tipo ore Crediti Ore di
didattica
assistita
Ore Studio
Individuale
ESERCITAZIONE 1.0 12 13.0
LABORATORIO 4.0 48 52.0
LEZIONE 5.0 40 85.0

Calendario
Inizio attività didattiche 01/10/2014
Fine attività didattiche 24/01/2015
Visualizza il calendario delle lezioni Lezioni 2019/20 Ord.2015

Commissioni d'esame
Commissione Dal Al Membri
1 a.a. 2018/19 20/01/2014 30/11/2019 MAURIZIO CHIARA (Presidente)
CARNERA ALBERTO (Membro Effettivo)
DE SALVADOR DAVIDE (Membro Effettivo)

Syllabus
Prerequisiti: Il contenuto del corso presuppone che lo studente sia in possesso di solide competenze di fisica classica, di fisica quantistica e nozioni di base di fisica dello stato solido.
Questa preparazione è fornita dagli insegnamenti del corso di Laurea in Scienza dei Materiali e del corso di Laurea in Fisica.
Conoscenze e abilita' da acquisire: Lo studente imparerà a utilizzare varie interazioni della radiazione con la materia allo scopo di ottenere informazioni sulla composizione, sulla struttura cristallina e sulla distribuzione in sia in profondità che laterale delle specie chimiche presenti.
Alla fine del corso lo studente padroneggerà alcuni esempi di base di metodi spettroscopici e di microscopia utilizzati nello studio dei materiali e sarà in grado di discuterne criticamente i risultati.
Modalita' di esame: Esame orale
Criteri di valutazione: Si valuterà la capacità dello studente di comprendere e discutere criticamente le basi fisiche ed i possibili utilizzi di metodi fisici di analisi dei materiali.
Contenuti: Principi di base dell’interazione radiazione-materia.
La sezione d’urto
L’interazione coulombiana a due corpi ione-nucleo e la Spettrometria di Rutherford Backscattering.
La perdita di energia degli ioni nella materia.
La rivelazione di specie leggere: l’analisi con reazioni nucleari e la spettroscopia dei nuclei di rinculo.
La spettrometria di massa di ioni secondari: il fenomeno dello sputtering, gli spettrometri di massa, l’a quantificazione dei risultati.
La diffrazione a raggi X ad alta risoluzione da materiali cristallini.
La teoria cinematica e la teoria dinamica.
Monocromatizzazione e collimazione dei raggi X.
L’intensità diffratta nello spazio reciproco.
La riflettività dei raggi X e le informazioni che se ne traggono.
Attivita' di apprendimento previste e metodologie di insegnamento: Lezioni frontali e sessioni di misura presso i laboratori del Dipartimento di Fisica e Astronomia.
Eventuali indicazioni sui materiali di studio: A supporto dei testi consigliati saranno disponibili in rete le slides utilizzate nel corso delle lezioni.
Testi di riferimento:
  • L.C Feldman and J.W.Mayer, Fundamentals od Surface ans Thin Film Analysis. New York: North-Holland, 1986. Cerca nel catalogo
  • P.F. Fewster, X-ray Scattering from Semiconductors. London: Imperial College Press, 2003. Cerca nel catalogo